1. A. Rosenauer. TEM-Untersuchung von epitaktischen Grenzflächen in II-VI/II-V Heterostrukturen (Dissertation). Roderer-Verlag, Regensburg, 1996.

1. Marcus J. Kastner, Berthold Hahn, Claus Auchter, Markus Deufel, Andreas Rosenauer, and Wolfgang Gebhardt. Structural characterization and MOVPE growth of ZnCdSe and ZnSSe layers, quantum wells and superlattices. Journal of Crystal Growth, 159(1-4):134--137, 1996. Note: Proceedings of the seventh international conference on II-VI compouds and devices.



2. A. Rosenauer, S. Kaiser, T. Reisinger, J. Zweck, W. Gebhardt, and D. Gerthsen. Digital analysis of high resolution transmission electron microscopy lattice images. Optik, 102:63--69, 1996.



3. A. Rosenauer, T. Reisinger, F. Franzen, G. Schutz, B. Hahn, K. Wolf, J. Zweck, and W. Gebhardt. Transmission electron microscopy and reflected high-energy electron-diffraction investigation of plastic relaxation in doped and undoped ZnSe/GaAs(001). Journal of Applied Physics, 79(8):4124--4131, 1996. Keyword(s): DISLOCATIONS, DOPED MATERIALS, EPITAXIAL LAYERS, MOLECULAR BEAM EPITAXY, PLASTICITY, RHEED, STRESS RELAXATION, TEM, VPE, ZINC SELENIDES.



4. K. Tillmann, A. Thust, M. Lentzen, P. Swiatek, A. Förster, K. Urban, W. Laufs, D. Gerthsen, T. Remmele, and A. Rosenauer. Determination of segregation, elastic strain and thin-foil relaxation in In(x)Ga(1-x)As islands on GaAs(001) by high resolution transmission electron microscopy. Philosophical Magazine Letters, 74(5):309--315, 1996.

1. M. J. Kastner, D. Brunhuber, B. Hahn, A. Rosenauer, and W. Gebhardt. Untersuchungen zum Gitterrelaxationsverhalten von MOVPE gewachsenen ZnSSe-Schichten. In DPG Frühjahrstagung, Münster (Germany) Frühjahrstagung des Arbeitskreises Festkörperphysik 1996, Regensburg, Verhandl. DPG (VI) 31, 1996, 1434, 1996.



2. T. Reisinger, S. Lankes, M. Kastner, A. Rosenauer, F. Franzen, M. Meier, and W. Gebhardt. Growth, Structural and Optical Characterization of MBE ZnCdSe/ZnSe QWs,. In 7th International Conference II-VI Compounds and Devices. Edinburgh, UK, 13-18 Aug 1995, J. Cryst. Growth 159, 510-513, 1996.

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