1. R. R. Juluri, A. Rath, A. Ghosh, A. Bhukta, R. Sathyavathi, D. Narayana Rao, Knut Müller, Marco Schowalter, Kristian Frank, Tim Grieb, Florian Krause, Andreas Rosenauer, and Parlapalli Vencata Satyam. Coherently Embedded Ag Nanostructures in Si: 3D Imaging and their application to SERS. Scientific Reports, 4:4633, April 2014. [doi:10.1038/srep04633]

1. M. Schowalter, F. Krause, T. Grieb, T. Mehrtens, K. Müller, and A. Rosenauer. Position resolved single electron response of the HAADF-STEM detector and improved method for intensity normalisation. In 18th International Microscopy Congress (IMC) [Talk IT-2-O-3292], 2014.



2. Marco Schowalter, Ingo Stoffers, Florian Krause, Thorsten Mehrtens, Knut Müller, Malte Fandrich, Timo Aschenbrenner, Detlef Hommel, and Andreas Rosenauer. Composition determination using HAADF-STEM in AlGaN/GaN heterostructures revisited. In Microscopy Conference 2013 (MC 2013, Regensburg) [Poster Presentation], volume 1: Instrumentation and Methods, pages IM.1.P028, 2013.



3. Ingo Stoffers, Marco Schowalter, Florian Krause, Thorsten Mehrtens, Knut Müller, Malte Fandrich, Timo Aschenbrenner, Detlef Hommel, and Andreas Rosenauer. Composition quantification from HAADF-STEM in AlGaN/GaN heterostructures revisited. In Microscopy of Semiconducting Materials 2013 (MSMX VIII),Oxford (UK) [Poster Presentation], 2013.



4. Moritz Tewes, Florian Krause, Knut Müller, Pavel Potapov, Marco Schowalter, Thorsten Mehrtens, and Andreas Rosenauer. Quantitative Composition Evaluation from HAADF-STEM in GeSi/Si Heterostructures. In Microscopy of Semiconducting Materials 2013 (MSM XVIII),Oxford (UK) [Talk], 2013.

1. Knut Müller, Thorsten Mehrtens, Florian Krause, Marco Schowalter, and Andreas Rosenauer. Simulation of STEM images [Invited talk], February 2014.

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