1. Tim Grieb, Knut Müller, Emmanuel Cadel, Andreas Beyer, Marco Schowalter, Etienne Talbot, Kerstin Volz, and Andreas Rosenauer. Simultaneous Quantification of Indium and Nitrogen Concentration in InGaNAs Using HAADF-STEM. Microscopy and Microanalysis, 20:1740, 9 2014. ISSN: 1435-8115. [WWW] [doi:10.1017/S1431927614013051]



2. J. Falta, Th. Schmidt, S. Gangopadhyay, Chr. Schulz, S. Kuhr, N. Berner, J. I. Flege, A. Pretorius, A. Rosenauer, K. Sebald, H. Lohmeyer, J. Gutowski, S. Figge, T. Yamaguchi, and D. Hommel. Cleaning and growth morphology of GaN and InGaN surfaces. physica status solidi (b), 248(8):1800-1809, 2011. ISSN: 1521-3951. [doi:10.1002/pssb.201046574] Keyword(s): chemical analysis, scanning tunneling microscopy, quantum dots, X-ray photoemission spectroscopy.



3. V. Grillo, K. Müller, K. Volz, F. Glas, T. Grieb, and A. Rosenauer. Strain, composition and disorder in ADF imaging of semiconductors. Journal of Physics: Conference Series, 326(1):012006, 2011. [WWW]



4. N. Peranio, A. Rosenauer, D. Gerthsen, S. V. Sorokin, I. V. Sedova, and S. V. Ivanov. Structural and chemical analysis of CdSe/ZnSe nanostructures by transmission electron microscopy. Phys. Rev. B, 61:16015-16024, June 2000. [doi:10.1103/PhysRevB.61.16015]

1. Tim Grieb, Knut Müller, Emanuel Cadel, Rafael Fritz, Nils Neugebohrn, Etienne Talbot, Marco Schowalter, Kerstin Volz, and Andreas Rosenauer. Chemical composition analysis of dilute GaNAs and InGaNAs by high-angle annular dark field STEM. In International Conference on Electron Microscopy and XXIV Annual Meeting of the Electron Microscope Society of India (EMSI) 2013, Kolkata (India) [Talk], 2013.



2. Tim Grieb, Knut Müller, Andreas Hyra, Rafael Fritz, Marco Schowalter, Nicolai Knaub, and Andreas Rosenauer. Chemical analysis of InGaNAs quantum wells using HAADF STEM. In EMC 2012 [Poster], Session PS1.2: Thin films, Coatings and Interface, Manchester (UK), 2012. [WWW]



3. D. Gerthsen, A. Rosenauer, D. Litvinov, and N. Peranio. Structural and chemical analysis of CdSe islands in a ZnSe matrix by transmission electron microscopy. In II-VI Compounds 1999. Ninth International Conference, 1-5 Nov. 1999 J. Cryst. Growth 214-215, 707-11, 2000.

This material is presented to ensure timely dissemination of scholarly and technical work. Copyright and all rights therein are retained by authors or by other copyright holders. All person copying this information are expected to adhere to the terms and constraints invoked by each author's copyright. In most cases, these works may not be reposted without the explicit permission of the copyright holder.

Les documents contenus dans ces répertoires sont rendus disponibles par les auteurs qui y ont contribué en vue d'assurer la diffusion à temps de travaux savants et techniques sur une base non-commerciale. Les droits de copie et autres droits sont gardés par les auteurs et par les détenteurs du copyright, en dépit du fait qu'ils présentent ici leurs travaux sous forme électronique. Les personnes copiant ces informations doivent adhérer aux termes et contraintes couverts par le copyright de chaque auteur. Ces travaux ne peuvent pas être rendus disponibles ailleurs sans la permission explicite du détenteur du copyright.

This document was translated from BibT_EX by bibtex2html