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Publications about 'Focused ion beam'
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Articles in journal, book chapters
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Thorsten Mehrtens,
Stephanie Bley,
Parlapalli Venkata Satyam,
and Andreas Rosenauer.
Optimization of the preparation of GaN-based specimens with low-energy ion milling for (S)TEM.
Micron,
43(8):902-909,
2012.
[WWW]
Keyword(s): Scanning transmission electron microscopy,
Focused ion beam,
Argon ion milling,
Low-energy ion milling,
Stopping and range of ions in matter.
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Robert Imlau,
Knut Müller,
Oleg Rubel,
Rafael Fritz,
Marco Schowalter,
Kerstin Volz,
and Andreas Rosenauer.
Investigation of optical and concentration profile changes of InGaNAs/GaAs heterostructures induced by thermal annealing.
Journal of Physics: Conference Series,
326(1):012038,
2011.
[WWW]
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Carsten Kruse,
Wojciech Pacuski,
Tomasz Jakubczyk,
Jakub Kobak,
Jan A Gaj,
Kristian Frank,
Marco Schowalter,
Andreas Rosenauer,
Matthias Florian,
Frank Jahnke,
and Detlef Hommel.
Monolithic ZnTe-based pillar microcavities containing CdTe quantum dots.
Nanotechnology,
22(28):285204,
2011.
[WWW]
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Thorsten Mehrtens,
Stephanie Bley,
Marco Schowalter,
Kathrin Sebald,
Moritz Seyfried,
Jürgen Gutowski,
Stephan S A Gerstl,
Pyuck-Pa Choi,
Dierk Raabe,
and Andreas Rosenauer.
A (S)TEM and atom probe tomography study of InGaN.
Journal of Physics: Conference Series,
326(1):012029,
2011.
ISSN: 1742-6596.
[WWW]
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Andreas Rosenauer,
Katharina Gries,
Knut Müller,
Angelika Pretorius,
Marco Schowalter,
Adrian Avramescu,
Karl Engl,
and Stephan Lutgen.
Measurement of specimen thickness and composition in AlGaN/GaN using high-angle annular dark field images.
Ultramicroscopy,
109(9):1171-1182,
2009.
ISSN: 0304-3991.
[WWW]
[doi:10.1016/j.ultramic.2009.05.003]
Keyword(s): Quantitative STEM Z-contrast imaging.
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Last modified: Wed Sep 21 12:45:11 2016
Author: knut.
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